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XTDIC三维全场应变测量分析系统

提供测量范围内的三维全场应变变形及位移测量

产品特点

  • 1

系统优势

1、非接触测量

2、直接测量全场应变、位移、变形、形貌

3、相关图像数据可反复分析处理,以实现不同研究目的,而无须重复试验,节约经济和时间成本

4、直接测量全场振幅、振动信息

5、可用于实时监测

6、试验过程可追溯、可评估


产品介绍

新拓三维XTDIC采用高精度的数字图像相关算法,为试验者提供非接触式动态全场三维应变及位移测量。


DIC技术在室内室外的普通环境均可使用,应变测量范围从0.005%-2000%以上,配合不同的图像采集硬件,测量对象尺寸可以从几mm2-几十m2,更大测量幅面也可定制,理论上在此测量范围内只要能获取高质量图像,即可进行精确的应变和变形测量。


XTDIC三维全场应变测量分析系统可与双目体显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中表面的三维坐标、位移场及应变场的测量。


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