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产品文档：
XTDIC三维全场应变测量分析系统
提供测量范围内的三维全场应变变形及位移测量
产品特点
系统优势
1、非接触测量
2、直接测量全场应变、位移、变形、形貌
3、相关图像数据可反复分析处理，以实现不同研究目的，而无须重复试验，节约经济和时间成本
4、直接测量全场振幅、振动信息
5、可用于实时监测
6、试验过程可追溯、可评估
产品介绍
新拓三维XTDIC采用高精度的数字图像相关算法，为试验者提供非接触式动态全场三维应变及位移测量。
DIC技术在室内室外的普通环境均可使用，应变测量范围从0.005%-2000%以上，配合不同的图像采集硬件，测量对象尺寸可以从几mm2-几十m2，更大测量幅面也可定制，理论上在此测量范围内只要能获取高质量图像，即可进行精确的应变和变形测量。
XTDIC三维全场应变测量分析系统可与双目体显微镜技术结合，实现微小物体变形过程中表面的三维坐标、位移场及应变场的测量。
