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XTDIC三维全场变形应变测量系统
产品特点
一、 主要功能及特色
1、 基本测量功能:
(1) ※测量幅面:支持几毫米到几米的测量幅面,根据需求可定制更多测量幅面。
(2) 测量相机:支持百万至千万像素相机,支持低速到高速相机,支持千兆网和Camera Link等多种相机接口。
(3) ※相机标定:支持多个相机多种测量幅面的标定,支持外部拍摄图像标定。
(4) 测量模式:同时支持单相机二维测量和多相机三维测量。
(5) ※实时测量:采集图像的同时,可以实时进行三维全场应变计算,在线和离线两种处理模式。
(6) 计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式。
(7) 测量结果:全场三维坐标、位移、应变数据等动态变形数据,应变模式有工程应变、格林应变、真实应变等三种。
(8) 多个检测工程:系统软件支持多个检测工程的计算、显示及分析。
(9) ※支持系统:支持32位、64位windows操作系统,具备64位和多线程加速计算功能。
2、分析报告功能
(1) ※18种变形应变计算功能:X、Y、Z、E三维位移;Z值投影;径向距离、径向距离差;径向角、径向角差;应变X、应变Y和应变XY;最大主应变;最小主应变;厚度减薄量;Mises应变;Tresca应变;剪切角。
(2) ※坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能。
(3) ※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥。
(4) ※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角。
(5) 数据平滑功能:均值,中值,高斯滤波等多种平滑功能。
(6) 数据插值功能:自动和手动两种数据插值模式。
(7) 材料性能分析:自动计算材料的弹性模量和泊松比等参数。
(8) 三维截线功能:可对三维测量结果进行直线或圆形截线分析。
(9) 曲线绘制功能:所有测量结果均可以绘制成曲线图。
(10) 成形极限分析功能:可绘制和编辑FLC成形极限曲线。
(11) 视频创建功能:可将测量过程二维图像或三维测量结果制作成视频并输出保存。
(12)数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出。
3、采集控制功能
(1) ※采集控制箱实现测量头的控制、多个相机的同步触发、多路模拟量和开关量数据采集、输入和输出信号控制。
(2) A/D采集:模拟量输入采集,A/D采集的量程由软件控制,可选量程:±10V、±5V、±2.5V、0~10V。
(3) 多种外部触发信号类型选择:模拟信号、TTL电平、光电隔离、差分输入,模拟信号电平可选择:+10V、+5V、0V、-5V、-10V。
(4) 激光器控制:控制激光器。
(5) 相机同步控制:多相机外同步触发信号。
(6) 光源控制:控制LED光源。
4、扩展接口(系统已经预留接口,用户可以选择配置扩展设备):
(1) 试验机接口:通过串口通讯或者模拟量实时采集试验机的力、位移等信号,并与三维全场应变测量数据实现同步,实现应力和应变数据的融合和统一。
(2) ※多测头同步检测接口:支持1~8个测头(更多测头可定制),多相机组同步测量,相机数目任意扩展,可以同步测量多个区域的变形应变,适用于大型物体或者回转型物体的变形应变测量。
(3) ※大尺寸全方位变形接口:支持摄影测量静态变形系统,实现全方位变形和局部全场应变检测数据的融合和统一。
(4) ※显微应变测量:配合双目体式显微镜,系统可以实现微小型物体的三维全场变形应变检测,并可支持扫描电镜、原子显微镜等显微图像的应变数据计算。
(5) ※标志点动态变形检测接口:具备圆形标志点动态变形测量功能。
(6) ※运动轨迹姿态检测接口:具备刚体物体运动轨迹姿态测量功能。
(7) ※成形极限FLC曲线测量接口:配合杯突试验机,参考ISO 12004-2: 2008标准进行Nakazima试验可以测得材料的FLC成形极限曲线。
(8) ※高温应变检测接口:实现最高2800℃摄氏度高温下的应变检测。
产品介绍
DIC数字散斑三维全场变形测量与分析系统
DIC数字散斑三维全场变形检测分析系统主要采用数字散斑相关方法,结合双目立体视觉技术,采用两个工业摄像头,实时采集物体各个变形阶段的散斑图像,利用图形相关算法进行物体表面变形点的立体匹配,重建出匹配点的三维空间坐标。对位移场数据进行平滑处理和应变信息的可视化分析,从而实现快速、高精度、实时、非接触式的三维应变测量。